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美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。3.6μm樣品薄膜--156

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。4.0μ聚丙烯薄膜TF-240

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。型號TF-160樣品薄膜

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，*的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。型號TF-160-255樣品薄膜

美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。XRF樣品薄膜-156

美國Chemplex樣品膜被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。2.5微米卷軸光譜儀檢測耗材薄膜型號100